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光學相干斷層掃描儀

簡要描述:IRiS 光學相干斷層掃描儀:對人工晶狀體進行非接觸式檢測,可以提供全面的幾何測量參數。與現有的幾何檢測設備相比,它的檢測速度更快、更精確、信息量更大。

  • 產品型號:IRiS
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2025-12-25
  • 訪  問  量:517

詳細介紹

品牌其他品牌價格區間面議
產地類別進口應用領域醫療衛生


產品名稱:光學相干斷層掃描儀


產品型號:IRiS


符合標準:YY 0290/YY-T 0290


產品特點:

1.范圍大:生產,研發均可以使用。

2.測試速度快:幾秒完成幾何尺寸檢測。

3.測量方式:可空氣中測量/可溶液中測量。

4.多樣性檢測:前表面,后表面,襻的檢測。

5.高速掃描:20KHZ掃描頻率。

6.高清成像:1200萬像素攝像頭,細節清晰可見。

7.無損測量:無接觸式測量,避免樣品損傷。


檢測功能:

1.人工晶狀體厚度檢測


光學相干斷層掃描儀





2.人工晶狀體直徑檢測


光學相干斷層掃描儀


3.人工晶狀體曲率檢測


光學相干斷層掃描儀


4.融入產線:提高產線各環節的測量能力自動化檢測(托盤+機械手+生產模塊軟件),產線檢測過程中,直接與CAD設計比對。


光學相干斷層掃描儀


5.測量圖片



光學相干斷層掃描儀










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